算法和軟件等多個范疇 ?？s短創(chuàng)立時刻 ，就需求了解套刻差錯的首要來歷
。一般選用兩層周期性的套刻標識（條紋圖畫）
，所得到丈量成果與均勻值的規(guī)范差錯(σ)。而經(jīng)過丈量衍射圖譜的對稱性就能夠取得套刻差錯的信息。經(jīng)過與供給商的深度綁定